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    Sanko三高涂層測厚儀SWT-7000Ⅲ

    簡要描述:Sanko涂層測厚儀SWT-7000Ⅲ
    SWT-7000Ⅲ+FN325 探測頭:可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。新 的 兩 用 探 測 頭 FN-325 可 用 于 SWT-7000 Ⅲ 系 列 的 產 品(7000Ⅲ、7100Ⅲ、7200Ⅲ)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。
    SWT 系列探頭可互換。
    ◆ 兩用型 : FN-325※
    ◆ 鐵材用 : Fe 系列
    ◆ 非鐵材 :

    • 產品型號:Sanko涂層測厚儀
    • 廠商性質:代理商
    • 更新時間:2016-11-15
    • 訪  問  量:1774
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    詳細介紹

    Sanko涂層測厚儀

    SWT-7000Ⅲ+FN325探測頭:可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。

    新的兩用探測頭FN-325可用于SWT-7000Ⅲ系列的產品(7000Ⅲ、7100Ⅲ、7200Ⅲ)可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。

     

    SWT系列探頭可互換?!?/p>

     ◆ 兩用型 : FN-325※  

     ◆ 鐵材用 : Fe 系列        

     ◆ 非鐵材 : NFe 系列

    ※新的探頭FN-325不能用于SWT-7000和SWT-7000Ⅱ,只

      適用于 SWT-7000Ⅲ.

     

    探測頭型號

    FN-325

    測量方式

    電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)

    測量范圍

    鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

    表示分辨率

    1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

          0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

          0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

    0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

    0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

    測量精度

    (平滑表面)

    0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

    或者是指示值的±2%以內

    101μm~3.00mm:±2%以內(鐵底材)

    101μm~2.50mm:±2%以內(非鐵底材)

    探測部

    1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

    選擇產品

    V形探測頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

    附屬品

    標準校正板、試驗用零校正板、(鐵用·非鐵用)

    測量對象

    鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

            電鍍(電解鎳除外)等

    非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

              一般較普遍的測量物用

     

    SWT-7000Ⅲ系列機型

    機型

    SWT-7000Ⅲ

    SWT-7100Ⅲ

    SWT-7200Ⅲ

    測量范圍

    連接的探測頭不同測量范圍也不同。

    顯示方式

         液晶顯示LCD(數據·提示信息)、背光燈

    檢量線校正

    2點校正方式(零校正、標準校正)

    檢量線存儲

    鐵、非鐵各1根

    10根

    測量值存儲

    20,000點

    數據傳送

    USB

    USB

    統計功能

    內藏

     

    附加功能

    ●背光燈   ●測量模式的切換(普通/連續)   ●檢量線、校正值的刪除

     ●自動關機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關機) ●分辨率的切換  

     ●上下限值的設定(SWT-7200Ⅲ)

    電源

    單3電池 ×2

    單3電池 ×2     電源線

    使用溫度

    0~40C°(不結露)

    機體尺寸·重量

    72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

    附屬品

    干電池、收納袋子

    干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

    追加產品

    鐵材金屬用探測頭(Fe)、非鐵材金屬用探測頭(NFe)

    鐵·非鐵材用探測頭(FN-325)

     

    SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(1)(Fe)

    型號

    Fe-2.5/2.5L

    Fe-2.5LwA

    Fe-0.6Pem

    測量方式

    電磁感應式

    測量范圍

    0~2.50mm

    0~600μm

    表示分解率

    1μm:0~999μm

    切換

                  0.1μm:0~400μm

     0.5μm:400~500μm

                  0.01mm:1.00~2.50mm

    1μm:0~600μm

    切換

    0.1μm:0~400μm

      0.5μm:400~500μm

     

    測量精度

    (平滑面)

    0~100μm:±1μm

    又或者時顯示值的±2%以內

                  101μm~2.50mm:±2%

    0~100μm:±1μm

    又或者時顯示值的±2%以內

    101μm~600μm:±2%

    探測部

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

       2.5:φ13×48mm

       2.5L:18×23×67mm

    1點定壓接觸式

    測量部:約20×57mm

    全長:約550~ 1.550mm

         (伸縮式)

    1點定壓接觸式

          Φ5.6×94mm

    選擇產品

    V形套頭/—

    (φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

    附屬品

    標準校正片

    試驗用零校正板

    (鐵用)

    標準校正片

    試驗用零校正板(鐵用)

    收納袋子

    標準校正片

    試驗用零校正板

            (鐵用)

    測量對象

    鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

    鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

    鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

     

    SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭(2)(Fe)

    型號

    Fe-10

    Fe-20

    測量方式

    電磁感應式

    測量范圍

    0~10mm

    0~20mm

    表示分解率

     

    1μm:0~999μm

    0.01mm:1~10mm

     

      1μm:0~999μm

    0.01mm:1~5mm

    0.1mm:5~20mm

    測量精度

    (平滑面)

    0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

                  3.01mm:顯示值的±3%

    探測部

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ18×47mm

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ35×59mm

    選擇產品

    附屬品

    標準校正片、試驗用零校正板(鐵用)

    測量對象

    鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

    鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

     探測頭要根據需要購買。

    SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭(NFe)

    型號

    NFe-2.0/NFe-2.0L

    NFe-06

    NFe-8

    測量方式

    渦電流式

    測量范圍

    0~2.00mm

    0~600μm

    0~8mm

     

    表示分解率

    1μm:0~999μm

     切換

    0.1μm:0~400μm

      0.5μm:400~500μm

      0.01mm:1.00~2.00mm

    1μm:0~600μm

     切換

    0.1μm:0~400μm

     0.5μm:400~500μm

     

     

    1μm:0~999μm

    0.01mm:1~8mm

     

     測量精度

    (平滑表面)

    0~100μm:±1μm

    又或者時顯示值的

    ±2%以內

    101μm~2.00mm:

              ±2%以內

    0~100μm:±1μm

    又或者時顯示值的

    ±2%以內

    101μm~600μm:

              ±2%以內

    0~100μm:±1μm

    ±(±1μm+顯示值的±2%)

    101μm~8mm:

              ±2%以內

     

    探測部

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    2.0:φ13×47mm

    2.0L:18×23×67mm

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ11×48mm

     

    1點定壓接觸式

    V形口套頭

    φ35×61mm

     

    選擇產品

    V形套頭/-

    附屬品

    標準校正片、試驗用零校正板(非鐵用)

    測量對象

    鋁、銅等非磁性金屬底材

    上的絕緣性皮膜等一般普

    通測量物用。

    鋁、銅等非磁性金屬底

    材上的絕緣性皮膜等

    細小的圓棒、細管、小

    物件等的高安定性用。

    鋁、銅等非磁性金屬

    底材上的絕緣性皮膜等

    比較厚的測量物用。

    探測頭要根據需要購買。

     

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